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概(gai)述三坐標
日期(qi):2025-12-29 13:10
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摘(zhai)要(yao):
任(ren)何(he)形狀(zhuang)都(dou)是由(you)空間(jian)點組成(cheng)的(de),所(suo)有(you)的幾(ji)何(he)量(liang)測(ce)量都(dou)可以(yi)歸(gui)結(jie)為(wei)
空間(jian)點的測(ce)量,因此(ci)**進行空間(jian)點坐標的采集(ji),是評(ping)定(ding)任何(he)幾(ji)何(he)形狀(zhuang)的基礎。
坐標測(ce)量機的基本原理是將(jiang)被(bei)測(ce)零件放入它允(yun)許的測(ce)量空間(jian),精(jing)
確的測(ce)出(chu)被(bei)測(ce)零件表(biao)面的點在空間(jian)三個坐標位置(zhi)的(de)數(shu)值,將(jiang)這(zhe)些點
的坐標數(shu)值經(jing)過計算(suan)機數(shu)據(ju)處理,擬(ni)合形成(cheng)測(ce)量元素(su),如圓、球、
圓柱、圓錐(zhui)、曲(qu)面等,經(jing)過數(shu)學(xue)計算(suan)的(de)方法得(de)出(chu)其(qi)形狀(zhuang)、位置(zhi)公(gong)差(cha)及其(qi)他(ta)幾(ji)何(he)量(liang)數(shu)據(ju)。
在(zai)測(ce)量技術上(shang),光(guang)柵尺(chi)及以(yi)後的(de)容(rong)柵(zha)、磁柵、激光(guang)幹涉(she)儀的(de)出(chu)
現,**性的把尺(chi)寸(cun)信(xin)息數(shu)字化(hua),不(bu)但可(ke)以(yi)進(jin)行數(shu)字顯(xian)示,而(er)且(qie)為(wei)
幾(ji)何(he)量(liang)測(ce)量的計算(suan)機處理,進(jin)而(er)用(yong)於(yu)控(kong)制打下基礎。
三坐標測(ce)量儀可(ke)定(ding)義為(wei)“壹種(zhong)具(ju)有(you)可作(zuo)三個方向移(yi)動(dong)的(de)探測(ce)器,可(ke)在(zai)
三(san)個相(xiang)互垂直(zhi)的(de)導軌上(shang)移(yi)動(dong),此(ci)探測(ce)器以(yi)接觸(chu)或非(fei)接觸(chu)等(deng)方式傳(chuan)送(song)訊(xun)號(hao),
三個軸的位(wei)移(yi)測(ce)量系統(tong) ( 如光(guang)學尺(chi) ) 經(jing)數(shu)據(ju)處理器或計算(suan)機等計算(suan)出(chu)工件
的(de)各(ge)點坐標(X、Y、Z)及各項(xiang)功(gong)能(neng)測(ce)量的儀(yi)器”。三(san)坐標測(ce)量儀的(de)測(ce)量功(gong)能(neng)應(ying)
包(bao)括尺(chi)寸(cun)精(jing)度(du)、定(ding)位精(jing)度(du)、幾(ji)何(he)精(jing)度(du)及輪廓(kuo)精(jing)度(du)等。
三坐標測(ce)量儀應(ying)用(yong)領域(yu)可概(gai)括為(wei)以(yi)下(xia)4點:
1.測(ce)量高(gao)精(jing)度(du)的幾(ji)何(he)零(ling)件和曲(qu)面;
2.測(ce)量復(fu)雜(za)形狀(zhuang)的機械零部(bu)件;
3.檢(jian)測(ce)自(zi)由曲(qu)面;
4.可選用(yong)接觸(chu)式(shi)或非(fei)接觸(chu)式(shi)測(ce)頭(tou)進行連續(xu)掃描
空間(jian)點的測(ce)量,因此(ci)**進行空間(jian)點坐標的采集(ji),是評(ping)定(ding)任何(he)幾(ji)何(he)形狀(zhuang)的基礎。
坐標測(ce)量機的基本原理是將(jiang)被(bei)測(ce)零件放入它允(yun)許的測(ce)量空間(jian),精(jing)
確的測(ce)出(chu)被(bei)測(ce)零件表(biao)面的點在空間(jian)三個坐標位置(zhi)的(de)數(shu)值,將(jiang)這(zhe)些點
的坐標數(shu)值經(jing)過計算(suan)機數(shu)據(ju)處理,擬(ni)合形成(cheng)測(ce)量元素(su),如圓、球、
圓柱、圓錐(zhui)、曲(qu)面等,經(jing)過數(shu)學(xue)計算(suan)的(de)方法得(de)出(chu)其(qi)形狀(zhuang)、位置(zhi)公(gong)差(cha)及其(qi)他(ta)幾(ji)何(he)量(liang)數(shu)據(ju)。
在(zai)測(ce)量技術上(shang),光(guang)柵尺(chi)及以(yi)後的(de)容(rong)柵(zha)、磁柵、激光(guang)幹涉(she)儀的(de)出(chu)
現,**性的把尺(chi)寸(cun)信(xin)息數(shu)字化(hua),不(bu)但可(ke)以(yi)進(jin)行數(shu)字顯(xian)示,而(er)且(qie)為(wei)
幾(ji)何(he)量(liang)測(ce)量的計算(suan)機處理,進(jin)而(er)用(yong)於(yu)控(kong)制打下基礎。
三坐標測(ce)量儀可(ke)定(ding)義為(wei)“壹種(zhong)具(ju)有(you)可作(zuo)三個方向移(yi)動(dong)的(de)探測(ce)器,可(ke)在(zai)
三(san)個相(xiang)互垂直(zhi)的(de)導軌上(shang)移(yi)動(dong),此(ci)探測(ce)器以(yi)接觸(chu)或非(fei)接觸(chu)等(deng)方式傳(chuan)送(song)訊(xun)號(hao),
三個軸的位(wei)移(yi)測(ce)量系統(tong) ( 如光(guang)學尺(chi) ) 經(jing)數(shu)據(ju)處理器或計算(suan)機等計算(suan)出(chu)工件
的(de)各(ge)點坐標(X、Y、Z)及各項(xiang)功(gong)能(neng)測(ce)量的儀(yi)器”。三(san)坐標測(ce)量儀的(de)測(ce)量功(gong)能(neng)應(ying)
包(bao)括尺(chi)寸(cun)精(jing)度(du)、定(ding)位精(jing)度(du)、幾(ji)何(he)精(jing)度(du)及輪廓(kuo)精(jing)度(du)等。
三坐標測(ce)量儀應(ying)用(yong)領域(yu)可概(gai)括為(wei)以(yi)下(xia)4點:
1.測(ce)量高(gao)精(jing)度(du)的幾(ji)何(he)零(ling)件和曲(qu)面;
2.測(ce)量復(fu)雜(za)形狀(zhuang)的機械零部(bu)件;
3.檢(jian)測(ce)自(zi)由曲(qu)面;
4.可選用(yong)接觸(chu)式(shi)或非(fei)接觸(chu)式(shi)測(ce)頭(tou)進行連續(xu)掃描




