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壹維(wei)測(ce)高儀(yi)的特點(dian)
日(ri)期:2025-12-29 08:39
瀏(liu)覽(lan)次數:2541
摘要:
壹維(wei)測(ce)高儀(yi)可(ke)以用(yong)來進(jin)行平面(mian)、平行面(mian)和(he)圓柱(zhu)面(mian)幾(ji)何(he)體(ti)的(de)內(nei)尺(chi)寸(cun)、
外(wai)尺(chi)寸(cun)、高(gao)度、深度以(yi)及距離(li)尺(chi)寸(cun)的(de)測量(liang)。
還可(ke)以同(tong)時(shi)進(jin)行壹維(wei)或二維(wei)的(de)測量(liang)。
壹維(wei)測(ce)高儀(yi)還具(ju)備(bei)自(zi)動(dong)搜(sou)索(suo)孔(kong)或軸的頂(ding)點(dian)功(gong)能(neng),在動(dong)態(tai)探測(ce)中(zhong)記(ji)錄*大(da)值(zhi)`
*小值(zhi)以及*大(da)值(zhi)與*小值(zhi)之(zhi)間(jian)的(de)差(cha)值(zhi)計算(suan).
壹維(wei)測(ce)高儀(yi)功能(neng)簡捷(jie)經(jing)濟實(shi)用(yong),使用(yong)於計量(liang)室環
境(jing),可(ke)以選擇有(you)或無(wu)氣浮(fu)情(qing)況,
使用(yong)非常簡單(dan)方(fang)便,測力(li)可(ke)調(tiao),排除(chu)人為(wei)因素,精度高(gao),
還可(ke)以自(zi)動(dong)記(ji)錄拐點(dian)以(yi)及具(ju)有(you)雙測頭(tou),雙測頭(tou)可(ke)使測(ce)量(liang)範圍(wei)擴(kuo)展(zhan)到235MM.
外(wai)尺(chi)寸(cun)、高(gao)度、深度以(yi)及距離(li)尺(chi)寸(cun)的(de)測量(liang)。
還可(ke)以同(tong)時(shi)進(jin)行壹維(wei)或二維(wei)的(de)測量(liang)。
壹維(wei)測(ce)高儀(yi)還具(ju)備(bei)自(zi)動(dong)搜(sou)索(suo)孔(kong)或軸的頂(ding)點(dian)功(gong)能(neng),在動(dong)態(tai)探測(ce)中(zhong)記(ji)錄*大(da)值(zhi)`
*小值(zhi)以及*大(da)值(zhi)與*小值(zhi)之(zhi)間(jian)的(de)差(cha)值(zhi)計算(suan).
壹維(wei)測(ce)高儀(yi)功能(neng)簡捷(jie)經(jing)濟實(shi)用(yong),使用(yong)於計量(liang)室環
境(jing),可(ke)以選擇有(you)或無(wu)氣浮(fu)情(qing)況,
使用(yong)非常簡單(dan)方(fang)便,測力(li)可(ke)調(tiao),排除(chu)人為(wei)因素,精度高(gao),
還可(ke)以自(zi)動(dong)記(ji)錄拐點(dian)以(yi)及具(ju)有(you)雙測頭(tou),雙測頭(tou)可(ke)使測(ce)量(liang)範圍(wei)擴(kuo)展(zhan)到235MM.




